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电化学表面成像及图案化系统
电化学表面成像及图案化系统

电化学表面成像及图案化处理系统,由精密空间定位装置与带有微电流检测的双恒电位仪以及相关的应用软件组成。可应用于界面电子及离子转移、化学及生物传感、离子组学、细胞成像、药物释放、界面相转移催化、生物膜模拟、界面有机合成、微纳米制备及表面微加工等研究及应用领域中。

技术支持

 

•探针渐近、探针扫描等多种工作模式

•电化学表面成像

•表面图案化处理功能

•双恒电位仪功能

•内置多种电化学方法

•交换工作电极功能

•皮安级微电流检测

•空间定位分辨率低至1.9nm

•第二工作电极开路电位模式

•紫外可见光纤光谱联用模式

•带有USB接口的光学显微镜

机械性能

步进电机

压电晶体

移动方向

X/Y/Z

X/Y/Z

移动范围

50×50×50mm

10×100×100μm

定位分辨率

20nm

2nm

重复定位精度

2μm

30nm

最高移动速度;

2mm/s

NA

响应时间

NA

25ms

电学性能 参数
电位控制范围 ±10V
槽压 ±12V
最大输出电流 ±250mA
电流测量范围 10pA ~ 250mA共11个量程
电流测量分辨率 <10fA
电位控制分辨率 0.1mV@±3.2V
数据采集速率 1MHz
线性扫描速度 1μV/s ~ 5000V/s
电位脉冲宽度 0.00001s ~ 1000s
低通滤波器截止频率 0.1Hz ~ 100KHz
参比电极输入阻抗 >1000GΩ
第二电极电位控制范围 ±10V
第二电极最大输出电流 ±250mA
第二电极电流测量范围 10pA ~ 250mA共11个量程
第二电极电流分辨率 <10fA
第二电极数据采集速率 1MHz

 

实验方法

 
探针渐近曲线(PAC)
探针扫描曲线(PSCA)
探针扫描曲线(PSCP)
探针扫描曲线(PSCCC)
电化学表面成像(ESIA)
电化学表面成像(ESIP)
电化学表面成像(ESICC)

 

电化学实验方法

 
开路电位(OCV)
 
差分常规脉冲伏安法
线性扫描伏安法(LSV)
差分脉冲电流检测(DPA)
循环伏安法(CV)
双差分脉冲电流检测(DDPA)
阶梯波伏安法(SCV)
三脉冲电流检测(TPA)
计时电流法(CA)
控制电位电解库仑法(BE)
计时电量法(CC)
 
技术电位法(CP)
多电位阶跃(STEP)
多电流阶跃(ISTEP)
方波伏安法(SWV)
电流扫描计时电位法(CPCR)
差分脉冲伏安(DPV)
 
交流伏安法(ACV)
常规脉冲伏安(NPV)
二次谐波交流伏安法(SHACV)
塔菲尔曲线(TAFEL)
 
交流阻抗(SHACV)
线性伏安法(LSV)
交流阻抗-时间测量(IMPT)
电流-时间曲线(I-t)
交流阻抗-电位测量(IMPE)
线性伏安法(LSV)
   
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